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聊聊TCT溫度循環(huán)實驗的條件
點擊次數(shù):2729 更新時間:2023-06-29

聊聊TCT溫度循環(huán)實驗的條件


    有很多芯片行業(yè)的客戶說要做溫度循環(huán)實驗(Temperature cycling test:TCT)測試,不知道具體的條件是什么,下面勤卓小編給大家分享一下,希望能夠對大家有所幫助。

   主要的測試目的:用于評估芯片封裝對于高低溫快速轉換之耐受度。進行該測試時,將芯片按照預定的循環(huán)次數(shù)反復暴露于此條件下。

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測試條件:條件B -55~125℃,700cycles

                 條件G -40~125℃,850cycles

                 條件C -65~125℃,500cycles

                 條件K 0~125℃,1500cycles

                 條件J 0~100℃,2300cycles    


樣品數(shù) : 25ea/lot , 3lots

參考規(guī)范:MIL-STD-883 Method 1010.7、JESD22-A104 

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   勤卓環(huán)試于2010年成立以來,專注發(fā)展可靠性測試設備,秉承“一款產品,就是一個行業(yè)品牌"的發(fā)展理念,勤卓研發(fā)生產的環(huán)境試驗設備,一直以性能穩(wěn)定,參數(shù)精密,而獲得市場的廣泛認可,勤卓品牌試驗設備先后進駐中科院、清華大學、沈飛集團、中船重工、比亞迪、邁瑞醫(yī)療、比克電池等各大企事業(yè)單位,受到市場的廣泛好評和尊敬。

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