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低溫恒溫試驗箱
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除了可仿真產品在一般氣候環境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、結露試驗)..等,去檢測產品本身的適應能力與特性是否改變,以及針對產品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環境下是否會發生龜裂、破損,另外在低濕環境中的空氣靜電量是一般環境的30倍以上,據統計,半導體破壞率:59%是由靜電所引起的。 |
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●人機對話式觸摸屏輸入系統,操作簡單易學,功能強大,并可于LCD畫面上了解程式設定之曲線及監測過程; ●可設定程式120組,1200段,循環次數可達999次,每段時間大設定99小時59分; ●具有RS232通信接口,可通過PC隨意控制和監視,還可選配RS485接口,SB曲線記錄和數據儲存裝置,使用便捷; ●具有9組PID參數調節,以達到穩定、精準之控制; ●具有程式修正、清除、預約、啟動、停電、記憶、按鍵鎖定等功能; ●具有多種報警功能,故障發生同時,可通過熒幕故障顯示,消除故障; ●*送風循環設計,溫濕度分布均勻性佳; ●具有自動防霜裝置的真空雙重玻璃,可清晰觀察試驗箱內的試品; ●前置式自動進水裝置,方便增加加濕水。 |
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執行標準.中國標準分為強制性國標(GB)和推薦性國標(GB/T) 中國標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件 中國標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件 中國標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件 滿足標準 電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩態濕熱 電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷 電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱 美國標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環試驗 美國標準,MIL-STD810D方法502.2 美國標準,MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業標準,S C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩態 日本工業標準,S C60068-2-2-1995 試驗B:干熱 日本工業標準,S C60068-2-1-1995 試驗A:低溫 美國半導體行業標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗 美國半導體行業標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗 中國標準,GB/T 2423.1-2001 低溫 中國標準,GB/T 2423.2-2001 高溫 中國標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法 中國標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環試驗 中國標準,GB/T2423.4-93方法 中國環境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗 |
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